三丰 日本三丰量具

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日本三丰新一代高精度轮廓仪

 CV-3200S4轮廓仪特点

· CV-3200/4200系列轮廓测量仪新一代手动轮廓测量仪具有高精度，高速度，并能够实现简易型CNC测量同类产品中，具有 测量精度X轴：±（1+0.01L）цm Z1轴：±（2+14H/100）цm（CV-3100）±（0.8+I0.5Hl/25）цm(CV-4100)，三丰公司采用了具有上佳的耐摩擦性及稳定性的高硬度陶瓷导轨。配有激光全息光栅尺CV-4100)

· 三丰公司具有创新意义的激光全息光栅尺技术，运用了衍射光干涉现象，达到了近似干涉仪级别的高精度，有效保证了全部测量范围50mm内高达0.05цm的分辨率。同类产品中，具有 测量效率及驱动速度X轴：80mm/s,Z2轴，20mm/s大幅度提高驱动速度，进一步降低测量时间。

· 操作极为简易将ABS光栅尺寸与Z2轴相结合，消除了传统操作中每次重复测量需重新设置原点的繁琐步骤。可以通过X轴、Z2轴上的手动微调和X轴倾斜驱动装置，对小孔和倾斜面进行有效的测量。批量校正功能：专用校正规可以使用户在一次操作中对测量仪的Z轴增益、对称性、探针半径等进行校正。增强安全功能以保护操作人员，测量仪器及工件为增强快速移动时的安全性，Z轴检测器内置防碰撞安全装置（产生干扰时，仪器自动停止工作）。

CV-3200S4轮廓仪技术规格:

X轴

-测量范围:X轴100mm

-直线度       ：0.8μm/100mm, *当X轴在水平方向

-指示精度(20℃时)  ：±（1＋0.01L）μm,L为驱动长度（mm）

-倾斜范围：±45°

-测量方向  ：向前/向后

-测量方法：反射型光栅尺

-驱动速度：80mm/s和手动

-测量速度：0.02--5mm/s

Z轴（立柱）

-行程范围            :300mm电动立柱

-Z轴分辨率：1um

-测量方法：ABSOLUTE光栅尺

-驱动速度：0-20mm/s和手动

检测器Z1轴

-测量范围:25mm

-分辨率             ：0.2um

-测量方法              ：光栅尺

-指示精度              ：±（2＋I4HI/100）μm（20℃时）

H为水平位置上的测量高度

探针（根据表面粗糙度，使用标准单切面探针）

-探针运动              ：上下弧形运动

-探针方向:向下

-探针测力          ：30mN

-跟踪角度:向上：77°向下：87°

-探针针尖半径：25um硬质合金针尖

主机

-电源:220／240V AV±10％，50/60Hz

-功耗：400W（只限主机）

-基座尺寸：600 X 450mm

-尺寸:741 (W)* 450 (D)* 905 (H)mm

-重量:140kg控制装置：14Kg遥控箱：0.9 Kg

标准附件:

-主机

-电器单元

-控制操纵杆

- 12AAF714 FORMPAK-1000(in Chinese)测量软件

- 996506 Straight arm(ABH-71)(直支臂)

- 354884One-side cut stylus(SPH-71)(高单切面测针)

- 546-113Dial tension gage DTG-10N(张力刻度表)

- 12AAG153Pin gage unit(销规)

- Reference hemisphere(基准半球)

- 611671-021Gauge block(10mm)(0级量块)

- 611672-021Gauge block(20mm)(0级量块)

- 611675-021Gauge block(50mm)(0级量块)

-操作手册(电子版)

含以下选购附件：

1.2000VA Voltage Stabilizer电源系统

2．Data processing system数字处理系统

-DELL Personal computer PIV 2G or above DELL360

-2GRam2G占存记忆体

-Harddisk160G硬盘

-Keyboard键盘

-19″LED color display 19寸彩色液晶显示器

-mouse滑鼠