| 类型 | 桥式三坐标测量机 |
|---|---|
| 品牌 | ZEISS/蔡司 |
| 型号 | ConTURA G2 |
| 加工定制 | 否 |
桥式测量机ConTURA G2
一机多用的扫描平台
物超所值的ConTURA G2®非常适合中小型生产企业，其扫描技术可以高密度处理数据。利用VAST®的扫描技术使工件的形状检验可以**速度获得高品质测量结果。可即时发现加工中的变化，确保产品质量并将废品率降至**低限度。
重要特征
坚固耐用的机械设计
X轴和Z轴均采用工业陶瓷作为导轨材料，具有良好的刚性，并有效防止温度波动及湿度和其他环境条件的影响适合车间的玻璃陶瓷光栅尺受粉尘和其他杂质的影响小三轴均采用四面环抱气浮轴承，可在高速运行和加速的条件下保持刚性和稳定性
机器技术
值得信赖的控制技术
**的计算机辅助误差技术（CAA），用于计算机辅助动态修正，保证测量结果准确可靠C99控制柜，来自卡尔·蔡司的控制技术，实现机器和探头的**匹配模块化设计确保维保便捷并全面满足未来升级需求用户友好型标准控制面板，更方便**地控制所有轴向运动；无级变速旋钮，随时调整测量速度
探头
ConTURA G2 direkt：采用蔡司扫描技术的入门级机型，配备Vast®XXT扫描探头，可以升级为G2 RDSConTURA G2 RDS：配备蔡司旋转测座RDS，结合接触式扫描探头Vast®XXT或光学探头Viscan，可自由、快速旋转，扫描范围达到任意角度位置ConTURA G2 aktiv：配备蔡司Vast®XT主动扫描探头，可打点和扫描**测量深孔元素，对尺寸、形状及位置测量可靠性高ConTURA G2 navigator：配备蔡司Vast XT gold主动扫描探头，提供**大精度的高速扫描
选项
设备的探针更换架具有非常高的更换重复精度，无须再次校准采用HTG（宽温带）机型，可以在较宽的温度范围内达到相同的测量精度采用U-STONE技术，将测量有效高度提升200mm，扩大Z轴测量空间
软件
蔡司用户友好型功能软件库基本软件包和选项产品满足所有的实际应用需求优化的面向对象编程模式全面模拟支持不同的探头图形化日志和统计
尺寸
测量范围 X× Y× Z[mm]
ConTURA G2 700 × (700~1000) × 600
1000 × (1200~1600) × 600
(含U-Stone)
长度测量误差(μm): 1.5 + L/333* 起
* - L = 测量长度以mm为单位
- 根据设备规格、所配探头及使用环境，精度有所不同
传感系统
139 0623 4308