| 产地 | 山东 |
|---|---|
| 类型 | 红外光谱仪 |
| 色散元件 | 干涉光谱仪 |
| 探测器类型 | 分光镜 |
| 销售方式 | 直销 |
| 种类 | 光谱仪 |
| 执行质量标准 | 国标 |
| 贸易属性 | 促销 |
| 工作波长范围 | 140-680 |
| 发货期限 | 10天 |
| 品牌 | 五星 |
| 型号 | T5WXCS |
| 加工定制 | 是 |
| 使用温度范围 | 25℃ |
| 质量认证 | ISO9001-2000 |
| 狭缝尺寸 | 211 |
T5型全谱直读光谱仪采用国际标准的设计和制造工艺技术，应用了日本滨松公司的CMOS信号采集元件，每块CMOS都可以单独设值火花个数，与国际光谱仪技术同步，采用真空光室设计及全数字激发光源。这款CMOS光谱仪，既包含了CCD光谱仪的全谱特性，又具备PMT光谱仪对非金属元素的极低检出限，整机设计合理，操作简单易学，具有数据准，长期稳定性好等优点。
全谱谱线图
CCD+CMOS全谱分析技术
丰富的谱线信息，分析灵敏线更多，保证分析的准 确 度；
基于全谱测量的数据，能够正确区分背景和谱线，有效提高测量精度；
智能选择合适的灵敏线，通过多谱线结合技术，实现低中高含量段的检测需求；
基于全谱测量数据的多峰拟合技术，有效消除谱线干扰，实现精
实时智能漂移校正技术
在分析过程中实时进行光谱漂移校正，增强仪器稳定性；
减少标准化校正次数，延长校正周期；
自动完成仪器校正，操作更加简便。
谱线漂移校正
CMOS检测技术优于CCD
CMOS相比CCD具有更高的灵敏度和响应速度；
CMOS相比CCD具有更好的线性度；
CMOS相比CCD具有极高的紫外光敏感度，在深紫外区如碳、磷、硫、硼、砷、氮等短波元素的检测更准确。
· 国内CMOS全谱接收技术；
· 
人性化一键激发，一键紧急停止；
· 一体化光室光学系统设计；
· 可编程脉冲全数字光源技术；
· 可分析Fe、Al、Cu、Zn、Ni、Ti、Mg、Co等多种基体；
· 波长范围140-680nm，可满足更多元素的分析要求。
| 通道名 | 通道分析范围 | 所选 通道 √ | 要求分析材料及其分析范围(参考程序) | ||||||
| 不锈钢 | 低中合金钢（碳钢） |
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| C | 0.002-4.5 | √ | 0.01-0.2 | 0.004-1.3 |
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| Si | 0.001-7.5 | √ | 0.06-2.3 | 0.001-1.8 |
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| Mn | 0.0005-3 | √ | 0.06-3 | 0.002-2.0 |
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| P | 0.0003-2.3 | √ | 0.004-0.06 | 0.001-0.08 |
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| S | 0.0002-0.5 | √ | 0.001-0.08 | 0.001-0.06 |
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| Cr1 | 0.001-4 | √ |
| 0.002-4 |
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| Cr2 | 4-35 | √ | 11-30 |
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| Ni1 | 0.001-4.5 | √ |
| 0.002-4 |
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| Ni2 | 4.5-25 | √ | 4.5-25 |
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| Mo | 0.001-10 | √ | 0.06-4 | 0.002-2.0 |
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| V | 0.0003-4.5 | √ | 0.02-0.8 | 0.001-1.0 |
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| Ti | 0.0001-3.0 | √ | 0.04-1 | 0.001-1.0 |
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| Cu | 0.0001-5 | √ | 0.06-6 | 0.01-1.2 |
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| Al | 0.0003-2.5 | √ | 0.003-2 | 0.01-1.5 |
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| Fe | STD | √ |
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