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首页 > 供应产品 > BETHEL热分析仪器热传导检查设备TSI2量热仪
BETHEL热分析仪器热传导检查设备TSI2量热仪
产品: 浏览次数:930BETHEL热分析仪器热传导检查设备TSI2量热仪 
品牌: ALNS
测量对象: 树脂、玻璃、陶瓷、金属等
尺寸: W552 × D602 × H657[mm]
单价: 面议
最小起订量: 1 台
供货总量: 98 台
发货期限: 自买家付款之日起 10 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2021-12-09 17:28
 
详细信息
测量对象 树脂、玻璃、陶瓷、金属等
尺寸 W552 × D602 × H657[mm]
电压 220V
工作温度 20~30(℃)
类型 热分析仪
适用范围 树脂、玻璃、陶瓷、金属等
重量 76.5[kg]
分类 量热仪
品牌 BETHEL
型号 TSI2
加工定制
检测项目 样品的缺陷、不均匀性、红外线放射亮度、简易温度、热特性

产品应用

热传导检查设备TSI2可以对树脂、玻璃、陶瓷、金属等的缺陷、不均匀性、红外线放射亮度、简易温度、热特性等进行测量分析;


  热传导检查设备TSI2优势:

1. 具备激光加热功能;

2. 宏观摄影光学系(分辨率约20μm);

3. 高性能红外照相机(7.5μm~13.5μm);

4. 独立的减噪技术;

5. 操作简单,打开盖子将样品放置到指定位置就可以进行测量;

主要规格


TSI-2

 基本性能

 测量对象

  样品的缺陷、不均匀性、红外线放射亮度、简易温度、热特性

 输出数据

  频率、距离、振幅、位相、亮度、图像数据

 解析模式

  点?范围解析、位相解析

 其它配件

  温度调制加热器、控制解析软件、PC

 测量环境

 温度

  RT~250[℃]

 测量频率

  0.1~10[Hz]

 红外照相机

 元件数量

  336×256

 元件的种类

  VOx Microbolometer

 像素

  17[μm]

 观察波长范围

  7.5~13.5[μm]

 帧延迟

  30[Hz]

 分辨率

  about 30[μm]

 半导体激光

(连续振荡)

 波长

  808[nm]

 最大输出功率

  5[W]

 正弦波调制

  0.1~30[Hz]

 平台可动范围

 水平(XY轴) 方向

  ±15[mm]

 垂直(Z轴) 方向

  +50[mm]

 电源

  AC100-240[V], 10-5[A], 50/60[Hz]

 使用环境

 温度

  20~30(℃)

 湿度

  20~80(%)

 保管环境

 温度

  0~50(℃)

 湿度

  20~80(%)

 设备本体

 外形尺寸

  W552 × D602 × H657[mm]

 重量

  76.5[kg]

 激光安全标准

  CLASS1, IEC/EN 60825-1:2007



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